测量原理与应用特点

测量方式为射线穿透吸收式测量，测量直接物理量为面密度（克重）。当X射线穿透材料时，射线被材料反射、散射或吸收，导致射线强度有一些的衰减，且衰减量与被穿透材料的面密度呈正相关关系。

当材料的体积密度固定不变或一致性较高时，可以通过体积密度换算来测量材料的厚度（面密度=密度*厚度）。

X射线测厚仪属于低能辐射装置，且射线可通过电源实现开启关闭，一般不需要专门防护。

X射线测厚仪一般采用O型扫描架。

X射线测厚仪结合激光位移传感器，采用C型大理石扫描架，衍生出X射线激光测厚一体机，可以实现面密度和厚度同时测量，可用于锂电涂布面密度和头尾削薄测量。

性能优异的X射线测量传感器

X射线测量传感器是锐奇公司的关键核心技术，由核探测专家集20年经验倾力打造，具有国内少有的高重复精度和长期稳定性。

X射线发射器采用双闭环电路控制系统，保证射线强度长期稳定和测量的高重复性。

X射线探测器引进德国前置放大电路技术，具有高信噪比。

X射线发射器采用专有狭缝式射线准直通道和小光斑设计，结合高信噪比探测器和软件算法，可提供更高的空间分辨精度和条纹缺陷识别。

根据实际测量需要，锐奇X射线发射器出射光斑设计有5*5mm、Φ9mm和2*12mm三种型号。

其中，2*12mm射线光斑是锐奇专有特色优势技术，可实现锂电涂布边缘削薄区尺寸测量。

公司拥有5Kev超软低能 X射线传感器技术，可实现锂电池隔膜、PI膜等纤薄材料面密度/厚度一致性测量。